Donnerstag, 14. Januar 2010

Darf es ein bisschen mehr sein? - FRT kombiniert konfokale und interferometrische Messtechnik in einem Gerät

Bergisch Gladbach - „Dual Technology", kurz DT, steht auf dem neuen MicroSpy Topo von Fries Research & Technology (FRT). Diese zwei Buchstaben signalisieren die besondere Stärke des vielseitigen Oberflächenmessgeräts: die Kombination eines Spinning-Disc Konfokalmikroskops mit einem Weisslicht-Interferometer. Damit lassen sich sowohl minimal als auch stärker strukturierte Proben berührungslos, zerstörungsfrei und binnen weniger Sekunden mit Mikro- und Nanometerauflösung vermessen. Konzipiert wurde das optische Messgerät für Anwender in der Forschung und Produktentwicklung sowie der begleitenden Produktionskontrolle zum Beispiel zur Messung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie.
(...)
http://pressemitteilung.ws/node/188767 @ wirtschaft

Keine Kommentare:

Kommentar veröffentlichen